众迅发半导体的射频探针融合了射频测试领域的最新技术和制造工艺，源自对现有技术的整合，并由公司资深射频测试团队进一步增强，这些精密制造的探针采用特殊合金接触头，具备卓越的电气特性 ，能够在广泛的频率范围内提供优秀的测试性能。 

新一代射频探针采用高性能合金材料并优化了外形设计，相较于传统产品，在测试数据的稳定性和一致性方面实现了提升。新型材料在高频和极端温度下仍能保持卓越性能，而独有的尖端设计和精细调整的几何形状不但减少了信号损失和寄生参数，也更加方便客户在扎针时的延迟位置确定，确保了测试结果的精确性和可靠性。 

射频探针提供单端和双端配置，支持50微米至1000微米的间距,以 及26GHz至110GHz的频率范围，非常适合进行高频射频和毫米波器件的片上S参数测量。同时XP系列高功率探针可为功放测试提供更多的选择。 

由于其高性价比、可靠性和先进技术特点，众迅发半导体射频探 针成为了射频测试领域的重要选择，为工程师提供了快速、准确解决晶圆射频测试中频率信号的解决方案，从而提高测试效率和准确性。